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首頁客戶案例明美DIC金相顯微鏡觀察導電粒子
明美DIC金相顯微鏡觀察導電粒子
時間:2015年1月16日

觀察導電粒子的個數(shù)以及分布,確認導電粒子是否符合要求。這個是每個做液晶模組廠家的必須要求。

使用金相顯微鏡系列配合起偏,檢偏及DIC微分干涉,可以很好的觀察屏的導電粒子,確認導電粒子個數(shù)是否符合要求。

首先,需要觀察導電粒子必須要有配有DIC 及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為最好,超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊,無法觀察到最好的效果。
明美MJ33DIC超高性價比的金相顯微鏡是觀察導電粒子的最佳選擇!

以下是我司MJ33DIC配套我司自主研發(fā)的高清顯微成像系統(tǒng)拍攝的導電粒子圖片:

紅色區(qū)域為導電粒子,在普通觀察方式底下看不到

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