什么是熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口（Polarizing microscope）？

熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口（Polarizing microscope）是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì)，在熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口下就能分辨的清楚，當然這些物質(zhì)也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口。

（1） 熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的特點
 將普通光改變?yōu)槠�振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。

（2） 熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的基本原理
熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口的原理比較復(fù)雜，在此不作過多介紹,熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應(yīng)力物鏡，旋轉(zhuǎn)載物臺。

（3） 偏光鏡檢術(shù)的方式
a. 正相鏡檢（Orthscope）:又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens）, 被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。
b. 錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時產(chǎn)生的干涉圖樣，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會聚偏振光束照明。

（4） 熒光顯微鏡|顯微鏡攝像頭|顯微鏡接口在裝置上的要求
 a. 光源：最好采用單色光，因為光的速度，折射率，和干涉現(xiàn)象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
 b. 目鏡：要帶有十字線的目鏡。
 c. 聚光鏡：為了取得平行偏光，應(yīng)使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
 d. 伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的輔助部件，這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。

（5） 偏光鏡檢術(shù)的要求
 a. 載物臺的中心與光軸同軸。 b. 起偏鏡和檢偏鏡應(yīng)處于正交位置。 c. 制片不宜過薄。